Aufbau eines Dunkelfeldmikroskopie-Messplatzes

  • Aufgabe:
    • Flexible Aufnahme von Streuspektren optischer Antennen

    Beginn:
    • Ab sofort möglich

   
Abb. 1: Dunkelfeldmikroskopie-Aufnahme verschiedener optischer Antennen. Abb. 2: Rasterkraftmikroskopie-Aufnahme einer optischen Antenne. 


 

Motivation

Am LTI werden optische Antennen hergestellt, welche bei für Menschen sichtbaren Wellenlängen Resonanz, also effizientes Empfangs- und Sendeverhalten, zeigen. Ein Verfahren zur Charakterisierung solcher Antennen ist die Dunkelfeldmikroskopie. Dabei wird weißes, also viele Wellenlängen enthaltendes Anregungslicht so auf eine Probe gelenkt, dass es nach einem Streuprozess räumlich vom durch Streuung in eine andere Richtung geleiteten Streulicht getrennt werden kann. Ein so erhaltenes Echtfarben-Übersichtsbild zeigt Abb. 1. Das bislang in unserer Arbeitsgruppe verwendete Verfahren ist effizient, bietet allerdings keine Möglichkeit, zusätzlich zur optischen Information auch topographische Informationen mit Hilfe eines Rasterkraftmikroskops (Abb. 2) aufzunehmen. Es ist außerdem auf eine bestimmte Lichtquelle (Halogenglühlampe) beschränkt. 

Aufgabe

Sie verwenden spezielle Linsen und andere opti-sche Bauteile, um verschiedene Lichtquellen (z.B. einen Weißlichtlaser oder eine Halogenglühlampe) effektiv mit speziellen Filtern und Objektiven zu kombinieren, um ein Dunkelfeldmikroskop, welches mit reflektiertem Licht arbeiten kann, aufzubauen. Nach erfolgreichem Abschluss dieser Arbeit können Sie damit metallische Nanostruktu-ren, z.B. optische Antennen, charakterisieren. 

Voraussetzungen

Sie haben Spaß an der Arbeit mit optischen Bau-teilen im Labor und interessieren sich dafür, äußerst kleine Strukturen mit optischen Verfahren sichtbar zu machen. Wenn Sie bereits erste Vorlesungen im Bereich Optik gehört haben, ist das sicherlich von Vorteil, der Schwerpunkt der Arbeit liegt aber im experimentellen Bereich.