 Qianli Ma |
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Masterstudent Automatische optische Inspektion basierend auf semiüberwachtem Lernen und deep Learning für Datensets mit wenigen Labels |
Betreuung: Prof. Dr. rer. nat. Uli Lemmer |
letzte Änderung:
14.05.2017
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft